扫描化学势显微镜

扫描化学势显微镜，是热电效应通过利用化学势，以图像的分布的扫描探针显微镜的形式。

一种扫描探针显微镜，使用扫描隧道显微镜（STM）的原理来检测在探针与样品之间的隧道结处存在热梯度时发生的热电动势（对应于塞贝克效应），通过事物可视化。

通过用下部加热装置加热测量样品并将其保持在高于探头电信号提取部分温度的温度下，会在它们之间的隧道结处产生热梯度，因此金属样品和半导体的塞贝克系数分别为1-2。由于隧道结表面原子之间的电化学电势分别为1至10μV和100至1000μV的量级，因为它们分别约为10μV/ K和100至1000μV/ K，所以当探针扫描原子表面时会发生局部化学反应。电位梯度的变化被测量为探针-样品电压的变化。

简单地通过添加加热器和样品台罐图像的测量电路化学势在正常STM分布。

• 在原子水平上观察和评估涂层样品的表面