弹道电子发射显微镜
词条百科 1
目录
弹道电子发射显微镜简介
弹道电子发射显微镜（BEEM）获得由弹道电子的图像扫描隧道显微镜的类型。
由于测量技术的发展，人们已经更好地了解了固体表面的结构和电子状态，但由于非破坏性研究的困难，人们仍不了解直接在表面下的界面。并于1988年由LD。。。
在BEEM中，来自扫描隧道显微镜（STM）探针的隧道电流到达样品表面上的金属层，并且可以通过测量该隧道电流来获得正常的STM图像。另一方面，当金属层的厚度小于金属层中电子的平均自由程长度时，到达金属层的一些电子弹道地穿过金属层到达下半导体集电极层。
弹道电子发射显微镜的应用
- 金属-半导体界面肖特基势垒的测量及其二维分布测量
- 金属/半导体界面处势垒的二维分布测量
内容来源于网络，本内容不代表16map.com立场，内容投诉举报请联系16map.com客服。如若转载，请注明出处：https://16map.com/wiki/mmzekizlnita