近场光学显微镜

近场光学显微镜（MO-SNOM）是扫描近场光学显微镜的一种形式。

一种扫描近场光学显微镜（SMOM），用于可视化样品表面的形状和磁通量分布。

用于分析磁性材料中磁光效应引起的光的偏振度的光学系统已添加到透射SNOM中。入射的激光束通过声光调制器（AOM）以15 kHz的频率闪烁，然后用偏振器线性偏振，然后在安装有探头的悬臂背面引导到单模光纤探头。有反射器，使用光xxx法探针-进行控制采样距离，探针是在振荡用声光调制器的闪烁同步地（AOM）的压电元件是通过振动。

光从在探头的顶端处的开口不与样本传输之后偏转成分的干扰发射的分色镜被改变光路，在样品内法拉第效应受到偏振分量（磁旋光）被检偏器分开，穿过仅透射激光波长分量并去除噪声光的滤光器，光强度通过光电倍增管转换成电信号，再通过锁相放大器转换成探头在激励信号和同步检测信噪比得到改善^[。用XY工作台对样品表面进行二维扫描，并绘制锁相放大器的输出以获得磁光图像，同时，使用光xxx方法从探针样品控制信号中检测样品表面。可以获得形状图像。

• 相对简单的设备配置允许在100 nm或更小的微区中观察磁化状态，而无需高真空和高电压。
• 有关样品磁化强度的直接信息

• 的Pt / Co 人工晶格薄膜，如磁光盘上记录的磁性薄膜的磁图案的观测